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少子壽命測試儀(WCT-120) |
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 供應商參考報價：￥10 |
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| 聯系人： |
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Eric |
| 所在城市： |
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上海市 閔行區 |
| 詳細地址： |
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都會路2388號總部一號 |
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| 詳細信息 |
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測量原理：QSSPC（準穩態光電導）；
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少子壽命測量范圍：100 ns-10 ms；
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測試模式：QSSPC，瞬態，壽命歸一化分析；
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電阻率測量范圍：3–600 (undoped) Ohms/sq.；
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注入范圍：1013-1016cm-3；
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感測器范圍：直徑40-mm；
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測量樣品規格：標準直徑: 40–210 mm （或更小尺寸）；
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硅片厚度范圍：10–2000 μm；
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外界環境溫度：20°C–25°C；
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功率要求：測試儀： 40 W ， 電腦控制器：200W ，光源：60W；
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通用電源電壓：100–240 VAC 50/60 Hz；
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